Оптические микроскопы выходят на новые рубежи
Метод сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (SNOM, Scanning Near-field Optical Microscope) позволяет значительно повысить пространственное разрешение оптических микроскопов по сравнению с классическими и получил широкое распространение. При этом исследуемый образец освещается через диафрагму с поперечным размером менее длины волны, а сама диафрагма расположена в ближнем поле образца - на расстоянии менее длины волны от него…
Полный текст статьи читайте на CNews
