3 июня откроется выставка «Метрология-2008»
С 3 по 5 июня 2008 года в Москве (ВВЦ, павильон №55) пройдет Международная выставка-конкурс средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2008» и научно-практическая конференция «Точность рождает качество».
Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» выступили с инициативой организации на выставке специализированного раздела, отражающего современное состояние измерений и испытаний наноматериалов и созданной на основе наноматериалов продукции, перспективы создания системы оценки и подтверждения соответствия и обеспечения безопасности использования нанотехнологий и продукции наноиндустрии, а также пути развития стандартизации и нормативного обеспечения в сфере нанотехнологий и наноматериалов.
Приглашаются все заинтересованные организации и предприятия представить разработки, обеспечивающие решение проблем измерений и подтверждения соответствия продукции наноиндустрии, в разделе нанотехнологий на выставке «Метрология-2008», которые могут стать для его участников основой долгосрочного сотрудничества и будут способствовать успешному развитию работ в этом перспективном направлении науки и техники.
© CNews
