Периферийное сканирование JTAG: тестирование опытных образцов электроники
В этой статье мы поделимся практическим опытом в использовании периферийного (граничного) сканирования JTAG и расскажем про особенности и преимущества внедрения этой технологии на этапе тестирования опытных образцов. Особое внимание будет уделено типичным ошибкам, выявленным с помощью JTAG с использованием программного пакета Provision для тестирования различных узлов и микросхем платы. Напомним, что периферийное сканирование (boundary scan) — это структурное тестирование печатной платы с установленными компонентами, которое основано на применении стандартов IEEE 1149.x. Результат сканирования — информация о наличии в электроцепях типичных неисправностей, возникающих в процессе производства печатных плат: коротких замыканий (bridges), непропаек (opens), западаний на 0 или 1 (stuck at 0, stuck at 1), обрывов дорожек. Читать дальше →
