Атомно-силовая микроскопия
В 2009 году компания IBM уже совершила определенный прорыв в области микроскопии поверхностей с разработкой техники бесконтактной атомно-силовой микроскопии (по-английски данный метод называется AFM — про него можно прочитать в Википедии, главное не путать ), добившись контроля над единичными атомами в составе простых молекул. В «голубом гиганте» продолжали опыты по данной линии исследований до сегодняшнего дня и вот, наконец, появились очередные результаты работы — в рамках большой команды, объединяющей не только спецов компании, но и ученых из европейских университетов, удалось улучшить существующую методику, модифицировав ее до KPFM — силовой микроскопии зонда Кельвина. Эта методика позволяет запечатлеть движение и распределение заряда внутри молекулы, не нарушая ее структуру.
Читать дальше →
